高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行高溫、低溫試驗。適用于電工電子、及其它產(chǎn)品的高低溫試驗。
高低溫箱參考標(biāo)準(zhǔn)：GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件、GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 |
