將被用來(lái)測(cè)試的產(chǎn)品 如元器件、組件、部件或整機(jī)，放入高低溫試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，為了保證被測(cè)試產(chǎn)品周?chē)h(huán)境能滿足試驗(yàn)規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件，高低溫試驗(yàn)箱工作空間尺寸與被測(cè)試產(chǎn)品外廓尺寸之間應(yīng)該遵循以下幾點(diǎn)規(guī)定：
a 被測(cè)試產(chǎn)品的體積（W×D×H）不能超過(guò)試驗(yàn)箱有效工作空間的（20-35）（推薦選用20）。對(duì)于在試驗(yàn)中發(fā)熱的產(chǎn)品推薦選用不大于30 。
b 被測(cè)試產(chǎn)品的迎風(fēng)斷面積與該斷面上試驗(yàn)箱工作腔總面積之比不大于（35-50）（推薦選用35）。
c 被測(cè)試產(chǎn)品外廓表面距試驗(yàn)箱壁的距離至少應(yīng)該保持100-150mm，（推薦選用150mm）。
高低溫試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法,GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。 |
